Spot Defect Modeling: Past and Evolution

Titre

BSO - Titre

Spot defect modeling: Past and evolution

DOI

DOAI

Identifiant WoS

WOS:000403402000014

Accès ouvert

OA - Non

Source - Accès ouvert

OA - Non

Type d'accès

Non OA

Editeur

IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers

Source

IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON DESIGN & TECHNOLOGY OF INTEGRATED SYSTEMS IN NANOSCALE ERA (DTIS 2017)

Type de document

Notoriété

0 - Sans notoriété

CNRS

Oui

CNRS - Institut

Poids de l’Open access dans la production CNRS